產(chǎn)品分類
Product CategorySuperViewW1系列光學(xué)表面輪廓儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測(cè)量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性,詮釋始終如一的測(cè)量品質(zhì)。
光學(xué)輪廓儀是以白光干涉技術(shù)原理,對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器,通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。
以白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ)的3d輪廓儀是用于樣品表面微觀形貌檢測(cè)的精密儀器??梢赃_(dá)到納米級(jí)的檢測(cè)精度,并快速獲得被測(cè)工件表面三維形貌和數(shù)據(jù)。
中圖儀器研發(fā)生產(chǎn)的光學(xué)3d輪廓儀檢測(cè)儀對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高品質(zhì)監(jiān)控時(shí)不需要取下產(chǎn)品或停止生產(chǎn),而且采用的是非接觸式光學(xué)測(cè)量,在獲得實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的同時(shí),不會(huì)對(duì)產(chǎn)品造成任何損傷,從而有效節(jié)約了生產(chǎn)成本,提高了生產(chǎn)效率,并且在線檢測(cè),沒有滯后性,從而減少不合格品,對(duì)表面缺陷檢測(cè)亦如此。
SuperView W1三維輪廓測(cè)量?jī)x基于白光干涉原理,不僅用于零件的檢測(cè),還是一種在生產(chǎn)中用于檢測(cè)軋制產(chǎn)品表面缺陷的設(shè)備,能完成缺陷尺寸的在線檢測(cè)。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。
SuperView W1系列三維表面形貌儀是以白光干涉技術(shù)為原理,獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點(diǎn),適用于從超光滑到粗糙、平面到弧面等各種表面類型,讓3D測(cè)量變得簡(jiǎn)單。
SJ5760表面輪廓測(cè)量?jī)x是專門用來檢測(cè)經(jīng)機(jī)械加工后工件的表面粗糙度、表面輪廓的機(jī)電一體化精密測(cè)量?jī)x器,能夠滿足軸承行業(yè)所有的測(cè)量需求,具備軸承輪廓度評(píng)價(jià)功能,是大曲面測(cè)量領(lǐng)域精細(xì)粗糙度測(cè)量的利器。
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